金相顯微鏡是針對金相樣品物理特性而設計的光學顯微鏡，它常用的觀察方式主要包括以下幾種：

一、明場觀察

原理：入射線垂直地或近似垂直地照射在試樣表面，利用試樣表面反射光線進入物鏡成像。如果試樣是一個鏡面，在視場內是明亮的一片，試樣上的組織將呈色影像襯映在明亮的視場內。

優(yōu)點：視線亮度高且均勻，應用范圍廣，操作簡單，價格低廉。

缺點：對于低對比標本，其對比度可能較低；且標本在明場觀察下缺乏立體感。

二、暗場觀察

原理：通過物鏡的外周照明試樣，照明光線不入射到物鏡內，得到試樣表面繞射光而形成的像。如果試樣是一個鏡面，由試樣上反射的光線仍以極大的傾斜角向反方向反射，無法進入物鏡，視場內因此呈現(xiàn)漆黑一片，只有試樣凹凸之處才能反射光線進入物鏡，使得試樣上的組織以亮白影像映襯在漆黑的視場內。

優(yōu)點：分辨率高，能夠觀察到極其微妙的物體，分辨率可達0.02~0.004微米（明場為0.4微米）。

缺點：僅能觀察物體的存在、運動和外部形態(tài)，無法獲取更多關于物體內部或深層的信息。

三、偏光觀察

原理：利用偏光原理對某些物質所具有的偏光性進行觀察。自然光通過偏振棱鏡或人造偏振片后變成偏振光，當光線射到具有雙折射性的物質（如某些晶體）的分界面上時，會產生兩束折射光（尋常光和非常光），通過偏光顯微鏡可以觀察到這種雙折射現(xiàn)象。

應用：偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡，被廣泛地應用在礦物學、化學等領域，也用于生物學和植物學的研究。

四、微分干涉觀察（DIC）

原理：微分干涉是利用偏光干涉原理，光源發(fā)出一束光線經聚光鏡射入起偏鏡，形成一線偏振光，經半透反射鏡射入渥拉斯登棱鏡后，產生一個具有微小夾角的尋常光（O光）和非常光（e光）的相交平面；再通過物鏡射向試樣，反射后再經渥拉斯登棱鏡合成一束光，通過半透反射鏡在檢偏鏡上O光與e光重合產生相干光束，在目鏡焦平面上形成干涉圖像。

優(yōu)點：能夠觀察試樣表面的微小凹凸和裂紋，且影像呈立體感，觀察效果更逼真。

缺點：需要高光強度，雙折射物質達不到DIC鏡檢效果，不能應用于塑料制品、培養(yǎng)物質的分析；鏡檢靈敏度有方向性，調整復雜。

五、激光共聚焦觀察（近十年新技術）

除了上述四種常見的觀察方式外，近十年來還出現(xiàn)了激光共聚焦的觀察方法。但請注意，按照現(xiàn)代儀器“模塊化設計，積木式結構”的設計思想，這四種（或五種，包含激光共聚焦）功能并不一定固化在每一臺金相顯微鏡上，而是以明場作為基本核心，其他功能可以像“搭積木”一樣組合到該顯微鏡上。

綜上所述，金相顯微鏡具有多種觀察方式，每種方式都有其獨特的原理和優(yōu)缺點。在實際應用中，需要根據試樣的特性和觀察需求選擇合適的觀察方式。